Tunel-Efika Mikroskopo
La tunel-efika mikroskopo aŭ skantunela mikroskopo (angla mallongigo STM el scanning tunneling microscopy) laboras per elektre kondukanta „kudrilo”, ofte nomata pinto kaj tio baziĝas je la kvantummeĥanika tunel-efiko.
Okaze de uzata tensio inter la pinto (de mikroskopa sondilo) kaj surfaco estiĝas mezurebla tunela elektro. La uzebla tunelefika mikroskopo estis evoluigita je komenco de la 1980-aj jaroj.
La tunela kurento (tipe 1 pA - 10 nA) sensas jam la ŝanĝiĝon je 100-ono de nm, tiel la pinto-surfaco-diferenco de tipe 0,5 - 1 nm devas stabile halti la ŝanĝiĝon malpli ol 1 %.
Oni uzas la tunelefikan mikroskopon ekzemple por manipulado de la surfaco.
La atom-forta mikroskopo (AFM) estas tre detala analiza ilo el nova generacio. Temas pri speco de tunel-efika mikroskopo (aŭ skantunela mikroskopo, STM), kiuj komence de la 21-a jarcento refortigis la intereson pri koloida scienco kaj antaŭenigis la nanoteknologion.
This article uses material from the Wikipedia Esperanto article Tunel-efika mikroskopo, which is released under the Creative Commons Attribution-ShareAlike 3.0 license ("CC BY-SA 3.0"); additional terms may apply (view authors). La enhavo estas disponebla laŭ CC BY-SA 4.0, se ne estas alia indiko. Images, videos and audio are available under their respective licenses.
®Wikipedia is a registered trademark of the Wiki Foundation, Inc. Wiki Esperanto (DUHOCTRUNGQUOC.VN) is an independent company and has no affiliation with Wiki Foundation.