Svepelektronmikroskop, scanning electron microscope eller SEM är en typ av elektronmikroskop som skapar bilder av föremål genom att scanna det med en elektronstråle med ett rastermönster.
Elektronerna interagerar med atomerna på föremålet vilket i sin tur sänder tillbaka signaler om föremålets yttopografi, sammansättning och andra egenskaper som exempelvis ledningsförmåga.
This article uses material from the Wikipedia Svenska article Svepelektronmikroskop, which is released under the Creative Commons Attribution-ShareAlike 3.0 license ("CC BY-SA 3.0"); additional terms may apply (view authors). Innehållet är tillgängligt under CC BY-SA 4.0 om ingenting annat anges. Images, videos and audio are available under their respective licenses.
®Wikipedia is a registered trademark of the Wiki Foundation, Inc. Wiki Svenska (DUHOCTRUNGQUOC.VN) is an independent company and has no affiliation with Wiki Foundation.